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產(chǎn)品中心少子壽命測試儀（MDP）HT picts高溫少子壽命測量系統(tǒng)
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HT picts高溫少子壽命測量系統(tǒng)，用于寬禁帶材料在高溫區(qū)間的非接觸、無損傷的溫度依賴型測量，涵蓋少子壽命、電學特性表征及深能級缺陷研究。（涵蓋瞬態(tài)模式μPCD、穩(wěn)態(tài)模式MDP、微波光電導等方法，符合SEMI PV9-1110 半導體標準）。
更新時間：2026-03-16
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